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大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统

易亨瑜 彭勇 胡晓阳 王耀梅 王文东 周文超 郑为民 黄祖鑫 廖原

强激光与粒子束2005,Vol.17Issue(11):1601-1604,4.
强激光与粒子束2005,Vol.17Issue(11):1601-1604,4.

大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统

Precise measurement system for reflectivity scanning of large aperture components

易亨瑜 1彭勇 1胡晓阳 1王耀梅 1王文东 1周文超 1郑为民 1黄祖鑫 1廖原1

作者信息

  • 1. 中国工程物理研究院,应用电子学研究所,四川,绵阳,621900
  • 折叠

摘要

关键词

光学测量/反射率/光腔衰荡/测量精度/大口径

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

易亨瑜,彭勇,胡晓阳,王耀梅,王文东,周文超,郑为民,黄祖鑫,廖原..大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统[J].强激光与粒子束,2005,17(11):1601-1604,4.

基金项目

中国工程物理研究院基金资助课题(20030442) (20030442)

强激光与粒子束

OA北大核心CSCD

1001-4322

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