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基于扫描的集成电路故障诊断技术

陶丽芳 马琪 竺红卫

现代电子技术2009，Vol.32Issue(1)：164-166,3.
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现代电子技术2009，Vol.32Issue(1)：164-166,3.

基于扫描的集成电路故障诊断技术

Scan-based Fault Diagnosis Technique for IC Testing

陶丽芳 1马琪 1竺红卫2

作者信息

  • 1. 杭州电子科技大学,微电子CAD研究所,浙江,杭州,310018
  • 2. 浙江大学VLSI设计研究所,浙江,杭州,310027
  • 折叠

摘要

关键词

故障诊断/扫描诊断/全速诊断/IDDQ/IDDT

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陶丽芳,马琪,竺红卫..基于扫描的集成电路故障诊断技术[J].现代电子技术,2009,32(1):164-166,3.

基金项目

浙江省科技计划资助项目(2007C31011) （2007C31011）

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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