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MS界面输运特性对碲镉汞光伏器件I-V特性的影响

胡晓宁 李言谨 方家熊

红外与毫米波学报2001,Vol.20Issue(3):165-168,4.
红外与毫米波学报2001,Vol.20Issue(3):165-168,4.

MS界面输运特性对碲镉汞光伏器件I-V特性的影响

INFLUENCE OF MS INTERFACE TRANSPORT ON THE CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTIC OF MCT PV DEVICE

胡晓宁 1李言谨 1方家熊1

作者信息

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所,
  • 折叠

摘要

Abstract

The influence of MS transport on the current-voltage characteristic of MCT PV device was investigated based on the current-voltage characteristics of MCT Schottkey barrier. The data of some devices were also discussed.

关键词

I-V特性/金属-碲镉汞接触/碲镉汞光伏器件

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

胡晓宁,李言谨,方家熊..MS界面输运特性对碲镉汞光伏器件I-V特性的影响[J].红外与毫米波学报,2001,20(3):165-168,4.

基金项目

国家自然科学基金(编号 19805014)和苏州大学江苏省薄膜材料重点实验室开放课题部分资助项目 (编号 19805014)

红外与毫米波学报

OA北大核心CSCDSCI

1001-9014

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