半导体学报2005，Vol.26Issue(8)：1662-1666,5.
快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法
A New Method of Rapidly Confirming Activation Energy and Extrapolating Life of Electronic Device
李杰 1郭春生 1莫郁薇 1谢雪松 1程尧海 1李志国1
作者信息
- 1. 北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022
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摘要
关键词
温度斜坡/激活能/多退化机理分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李杰,郭春生,莫郁薇,谢雪松,程尧海,李志国..快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法[J].半导体学报,2005,26(8):1662-1666,5.
