电子器件2008，Vol.31Issue(5)：1674-1676,1680,4.
基于MBIST的多片SRAM联合测试实现
Implementing of Multi-SRAM Co-Test Based on MBIST
刘学勇 1李晓江 1马成炎1
作者信息
- 1. 中国科学院微电子研究所,杭州,310053
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摘要
关键词
MBIST/多片SRAM/联合测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘学勇,李晓江,马成炎..基于MBIST的多片SRAM联合测试实现[J].电子器件,2008,31(5):1674-1676,1680,4.
