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Nios II在同位素测厚仪数据采集中的应用

高富强 高福兵

电子器件2007，Vol.30Issue(5)：1692-1695,4.
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电子器件2007，Vol.30Issue(5)：1692-1695,4.

Nios II在同位素测厚仪数据采集中的应用

Application of Nios II in Data Acquisition of Isotope Thickness Measurement Instrument

高富强 1高福兵2

作者信息

  • 1. 重庆大学ICT研究中心,重庆,400030
  • 2. 重庆大学自动化学院,重庆,400030
  • 折叠

摘要

关键词

测厚仪/Nios II软核处理器/数据采集/厚度测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高富强,高福兵..Nios II在同位素测厚仪数据采集中的应用[J].电子器件,2007,30(5):1692-1695,4.

基金项目

国家自然基金项目资助(60672098) （60672098）

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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