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集肤和邻近效应对平面磁性元件绕组损耗影响的分析

旷建军 阮新波 任小永

中国电机工程学报2006,Vol.26Issue(5):170-175,6.
中国电机工程学报2006,Vol.26Issue(5):170-175,6.

集肤和邻近效应对平面磁性元件绕组损耗影响的分析

Analysis of Skin and Proximity Effects on Winding Losses in Planar Magnetic Components

旷建军 1阮新波 1任小永1

作者信息

  • 1. 南京航空航天大学航空电源重点实验室,江苏省,南京市,210016
  • 折叠

摘要

关键词

电工/集肤效应/邻近效应/绕组损耗/平面磁性元件

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

旷建军,阮新波,任小永..集肤和邻近效应对平面磁性元件绕组损耗影响的分析[J].中国电机工程学报,2006,26(5):170-175,6.

基金项目

霍英东教育基金会高等院校青年教师基金(91058). (91058)

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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