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基于IC互连线开路故障的Y/R模型

赵天绪 郝跃 马佩军

电子学报2002，Vol.30Issue(11)：1707-1710,4.
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电子学报2002，Vol.30Issue(11)：1707-1710,4.

基于IC互连线开路故障的Y/R模型

Y/R Model of Integrated Circuits Based on the Open Circuit Fault of Interconnections

赵天绪 1郝跃 2马佩军1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子所,陕西西安,710071
  • 2. 宝鸡文理学院数学系,陕西宝鸡,721007
  • 折叠

摘要

关键词

成品率/可靠性/关键面积

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

赵天绪,郝跃,马佩军..基于IC互连线开路故障的Y/R模型[J].电子学报,2002,30(11):1707-1710,4.

基金项目

国家科技攻关项目(No.96-738-01-03-10) （No.96-738-01-03-10）

电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0372-2112

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