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基于USB2.0的高象素CMOS Sensor疵点检测系统

杨宗立

现代电子技术2007,Vol.30Issue(2):174-176,3.
现代电子技术2007,Vol.30Issue(2):174-176,3.

基于USB2.0的高象素CMOS Sensor疵点检测系统

A System of Flaw Detection Based on USB2.0 Technology

杨宗立1

作者信息

  • 1. 苏州大学,电子信息学院,江苏,苏州,215006
  • 折叠

摘要

关键词

USB2.0/疵点/图像处理/检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨宗立..基于USB2.0的高象素CMOS Sensor疵点检测系统[J].现代电子技术,2007,30(2):174-176,3.

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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