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氮化镓HEMT器件的新型Cold FET模型

郑惟彬 李晨 李辉 陈堂胜 任春江

电子器件2008,Vol.31Issue(6):1765-1768,4.
电子器件2008,Vol.31Issue(6):1765-1768,4.

氮化镓HEMT器件的新型Cold FET模型

New Cold FET Model for GaN HEMT Devices

郑惟彬 1李晨 2李辉 1陈堂胜 1任春江1

作者信息

  • 1. 单片集成电路与模块国家重点试验室,南京,210016
  • 2. 中国电子科技集团公司基础部,北京,100038
  • 折叠

摘要

关键词

氮化镓/高电子迁移率晶体管/Cold/FET模型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郑惟彬,李晨,李辉,陈堂胜,任春江..氮化镓HEMT器件的新型Cold FET模型[J].电子器件,2008,31(6):1765-1768,4.

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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