测量微球覆层厚度的X射线衍射法

周上祺石泉任勤彭倩应诗浩李聪

重庆大学学报(自然科学版)2009，Vol.32Issue(2)：177-180,4.

X-ray diffraction method of measuring microball coat thickness

周上祺 ¹石泉 ¹任勤 ¹彭倩 ²应诗浩 ²李聪²

作者信息

微球/厚度测量/X射线衍射法/计算机模拟

microball/thickness measurement/X-ray diffraction/computer simulation

矿业与冶金

周上祺,石泉,任勤,彭倩,应诗浩,李聪..测量微球覆层厚度的X射线衍射法[J].重庆大学学报(自然科学版),2009,32(2):177-180,4.

核燃料及材料国家级重点实验室基金资助项目(W05-11) （W05-11）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1000-582X

访问量0

下载量0

段落导航