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双继电器内部结构之间电磁干扰的有限元分析

杨文英 周学 翟国富

电工技术学报2007,Vol.22Issue(8):179-184,6.
电工技术学报2007,Vol.22Issue(8):179-184,6.

双继电器内部结构之间电磁干扰的有限元分析

Finite Element Analysis of Electromagnetic Interference of Inner Structures of Twin-Type Relay

杨文英 1周学 1翟国富1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学军用电器研究所,哈尔滨,150001
  • 折叠

摘要

关键词

双电磁继电器/功能模块/静态和动态特性/三维有限元/电磁干扰

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨文英,周学,翟国富..双继电器内部结构之间电磁干扰的有限元分析[J].电工技术学报,2007,22(8):179-184,6.

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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