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微分代数方法在静电电子透镜任意高阶像差分析中的应用

程敏 唐天同 姚振华

电子学报2002,Vol.30Issue(12):1800-1803,4.
电子学报2002,Vol.30Issue(12):1800-1803,4.

微分代数方法在静电电子透镜任意高阶像差分析中的应用

Differential Algebraic Method for Arbitrary High Order Aberration Analysis of Electrostatic Electron Lens Systems

程敏 1唐天同 1姚振华1

作者信息

  • 1. 西安交通大学电子与信息工程学院,陕西西安,710049
  • 折叠

摘要

关键词

微分代数/静电电子透镜/像差分析

分类

数理科学

引用本文复制引用

程敏,唐天同,姚振华..微分代数方法在静电电子透镜任意高阶像差分析中的应用[J].电子学报,2002,30(12):1800-1803,4.

基金项目

国家自然科学基金(No.69971019) (No.69971019)

电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0372-2112

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