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TLP应力下gg-NMOS瞬态特性分析

王雯 钱钦松 孙伟锋

电子器件2008,Vol.31Issue(6):1816-1818,3.
电子器件2008,Vol.31Issue(6):1816-1818,3.

TLP应力下gg-NMOS瞬态特性分析

Transient Character Research of gg-NMOS under TLP Stress

王雯 1钱钦松 1孙伟锋1

作者信息

  • 1. 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096
  • 折叠

摘要

关键词

静电放电/瞬态特性/传输线脉冲/过冲电压/过冲时间

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王雯,钱钦松,孙伟锋..TLP应力下gg-NMOS瞬态特性分析[J].电子器件,2008,31(6):1816-1818,3.

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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