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统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用

张辉 赵晓峰 唐清 李文超

中国粉体技术2003,Vol.9Issue(1):18-20,3.
中国粉体技术2003,Vol.9Issue(1):18-20,3.

统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用

Application of Statistical Pattern Recognition in Study of Monodisperse Silica Microsperes Preparation

张辉 1赵晓峰 2唐清 2李文超2

作者信息

  • 1. 北京科技大学材料科学与工程学院,北京 100083
  • 2. 中国科学院过程工程研究所,北京 100080
  • 折叠

摘要

关键词

统计模式识别/二氧化硅微球/单分散

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

张辉,赵晓峰,唐清,李文超..统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用[J].中国粉体技术,2003,9(1):18-20,3.

中国粉体技术

OACSTPCD

1008-5548

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