物探化探计算技术2000，Vol.22Issue(1)：18-20,72,4.
成像区外异常体对电阻率层析成像结果的影响
THE INFLUENCE OF THE SURROUNDING RESISTIVITY STRUCTURES ON RESISTIVITY TOMOGRAPHY
摘要
关键词
成像区外异常体/电阻率层析成像/对成像结果的影响分类
天文与地球科学引用本文复制引用
毛先进,鲍光淑..成像区外异常体对电阻率层析成像结果的影响[J].物探化探计算技术,2000,22(1):18-20,72,4.基金项目
获中国有色地质总局科研项目(编号:98-D-6) （编号:98-D-6）
云南省自然科学基金项目(编号:98D077M) （编号:98D077M）
云南省青年地震科学基金联合资助 （）
