中国粉体技术2004，Vol.10Issue(2)：18-21,4.
斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究
Research on Thickness Measurement of Sheet Particles with Microscopic Image Analysis Method of Oblique Projection
窦彦玲 1任中京 1江海鹰1
作者信息
- 1. 济南大学,颗粒测试研究所,山东,济南,250022
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摘要
关键词
斜投影/显微图像分析/三维重构/体视学分类
机械制造引用本文复制引用
窦彦玲,任中京,江海鹰..斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究[J].中国粉体技术,2004,10(2):18-21,4.
