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现代电子技术
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关于MOSFET的双峰效应量化评估研究
关于MOSFET的双峰效应量化评估研究
陆玉娥
蒋卓勤
孔凡东
刘剑
现代电子技术
2009，Vol.32
Issue(5)：182-183,186,3.
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现代电子技术
2009，Vol.32
Issue(5)
：182-183,186,3.
关于MOSFET的双峰效应量化评估研究
Evaluation of Double Hump Phenomenon in MOSFET
陆玉娥
1
蒋卓勤
1
孔凡东
1
刘剑
1
作者信息
1.
西安通信学院,陕西,西安,710106
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摘要
关键词
双峰效应
/
掺杂浓度
/
MOSFET
/
数字化评估
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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陆玉娥,蒋卓勤,孔凡东,刘剑..关于MOSFET的双峰效应量化评估研究[J].现代电子技术,2009,32(5):182-183,186,3.
现代电子技术
OA
CSTPCD
ISSN：
1004-373X
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