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基于Hopfield网络的时序电路测试方法探析

王红霞 叶晓慧 张森

电子器件2006,Vol.29Issue(1):183-185,188,4.
电子器件2006,Vol.29Issue(1):183-185,188,4.

基于Hopfield网络的时序电路测试方法探析

Discussion of Sequential Circuits Testing Method Based on Hopfield-Neural Network

王红霞 1叶晓慧 1张森1

作者信息

  • 1. 海军工程大学信息与电气学院电子探测系,武汉,430033
  • 折叠

摘要

关键词

Hopfield网络/时序电路/测试生成

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王红霞,叶晓慧,张森..基于Hopfield网络的时序电路测试方法探析[J].电子器件,2006,29(1):183-185,188,4.

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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