原子能科学技术2005，Vol.39Issue(2)：183-187,5.
典型光电子器件辐射效应数值分析与试验模拟方法研究
Study on Numerical Analysis and Experiment Simulation Approaches for Radiation Effects of Typical Optoelectronic Devices
唐本奇 1张勇 2肖志刚 1黄芳 1王祖军 1黄绍艳 1毛用泽 1王峰2
作者信息
- 1. 西北核技术研究所,陕西,西安,710024
- 2. 防化研究院,第二研究所,北京,102205
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摘要
关键词
光电器件/辐射效应/数值分析/模拟试验分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
唐本奇,张勇,肖志刚,黄芳,王祖军,黄绍艳,毛用泽,王峰..典型光电子器件辐射效应数值分析与试验模拟方法研究[J].原子能科学技术,2005,39(2):183-187,5.
