|
国家科技期刊平台
|
注册
中文
EN
首页
|
期刊导航
|
空间科学学报
|
浮栅ROM器件的质子辐射效应实验研究
浮栅ROM器件的质子辐射效应实验研究
贺朝会
耿斌
陈晓华
杨海亮
空间科学学报
2002，Vol.22
Issue(2)：184-192,9.
下载
✕
空间科学学报
2002，Vol.22
Issue(2)
：184-192,9.
浮栅ROM器件的质子辐射效应实验研究
EXPERIMENTAL STUDY ON PROTON IRRADIATION EFFECTS OF FLOATING GATE ROMS
贺朝会
1
耿斌
1
陈晓华
1
杨海亮
1
作者信息
1.
西北核技术研究所,西安,710024
折叠
摘要
关键词
FLASH ROM-EEPROM-质子-单粒子效应-总剂量效应
分类
航空航天
引用本文
复制引用
贺朝会,耿斌,陈晓华,杨海亮..浮栅ROM器件的质子辐射效应实验研究[J].空间科学学报,2002,22(2):184-192,9.
空间科学学报
OA
北大核心
CSCD
CSTPCD
ISSN：
0254-6124
下载
访问量
1
|
下载量
0
段落导航
相关论文
摘要
关键词
分类
引用文本
