半导体学报2005，Vol.26Issue(9)：1848-1853,6.
一种DC-DC芯片内建可测性设计
A Design for Built-in Testability of DC-DC Converter Chip
摘要
关键词
电源管理/DC-DC/可测性设计/内建测试电路分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王红义,来新泉,李玉山,陈富吉..一种DC-DC芯片内建可测性设计[J].半导体学报,2005,26(9):1848-1853,6.基金项目
国家自然科学基金(批准号:60172004)和国家教育部博士点基金(批准号:20010701003)资助项目 （批准号:60172004）
