| 注册
首页|期刊导航|计算机工程|数字信息技术设备电磁泄漏频谱的测试与分析

数字信息技术设备电磁泄漏频谱的测试与分析

周长林 侯德亭 常青美 朱忠义

计算机工程2005,Vol.31Issue(17):189-190,2.
计算机工程2005,Vol.31Issue(17):189-190,2.

数字信息技术设备电磁泄漏频谱的测试与分析

Testing and Analysis of EM Leakiness Spectrum from Digital ITE

周长林 1侯德亭 1常青美 1朱忠义1

作者信息

  • 1. 信息工程大学理学院,郑州,450001
  • 折叠

摘要

关键词

电磁兼容性/信息技术设备/数字信号/辐射发射/电磁泄漏/频谱分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周长林,侯德亭,常青美,朱忠义..数字信息技术设备电磁泄漏频谱的测试与分析[J].计算机工程,2005,31(17):189-190,2.

基金项目

河南省科技攻关基金资助项目(001120333) (001120333)

计算机工程

OA北大核心CSCD

1000-3428

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文