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鉴印系统中印章几何参数的计算

张玲 张永军 何伟 郭磊民

信息与电子工程2006,Vol.4Issue(3):196-200,5.
信息与电子工程2006,Vol.4Issue(3):196-200,5.

鉴印系统中印章几何参数的计算

Geometry Calculation of Seal Image in the Seal Verification System

张玲 1张永军 1何伟 1郭磊民1

作者信息

  • 1. 重庆大学,通信工程学院,重庆,400044
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摘要

关键词

鉴印系统/几何参数/Hough变换/最小二乘法

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张玲,张永军,何伟,郭磊民..鉴印系统中印章几何参数的计算[J].信息与电子工程,2006,4(3):196-200,5.

信息与电子工程

2095-4980

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