电子学报2007，Vol.35Issue(2)：197-201,5.
基于变游程编码的测试数据压缩算法
A Test Set Compression Algorithm Based on Variable-Run-Length Code
彭喜元 1俞洋1
作者信息
- 1. 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系,黑龙江哈尔滨,150001
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摘要
关键词
变游程编码/测试压缩/测试功耗分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
彭喜元,俞洋..基于变游程编码的测试数据压缩算法[J].电子学报,2007,35(2):197-201,5.
