工程设计学报2008，Vol.15Issue(3)：198-200,3.
X射线测量板材厚度系统研究
Research on technique of X-ray thickness gauge
廖平 1马洪秋 1陈峰1
作者信息
- 1. 中南大学,机电工程学院,湖南,长沙,410083
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摘要
关键词
X射线/测厚仪/Delphi/AVR分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
廖平,马洪秋,陈峰..X射线测量板材厚度系统研究[J].工程设计学报,2008,15(3):198-200,3.
