半导体学报2002，Vol.23Issue(2)：198-202,5.
一种有效的IC成品率估算模型
An Effectual IC's Yield Estimation Model
赵天绪 1郝跃 2马佩军2
作者信息
- 1. 西安电子科技大学微电子所,西安,710071；宝鸡文理学院数学系,宝鸡,721007
- 2. 西安电子科技大学微电子所,西安,710071
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摘要
关键词
功能成品率/缺陷/故障率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
赵天绪,郝跃,马佩军..一种有效的IC成品率估算模型[J].半导体学报,2002,23(2):198-202,5.
