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基于遗传算法的模拟电路故障诊断激励优化

殷时蓉 陈光(礻禹) 谢永乐

测控技术2007,Vol.26Issue(6):20-22,3.
测控技术2007,Vol.26Issue(6):20-22,3.

基于遗传算法的模拟电路故障诊断激励优化

Optimizing the Stimulus of Analog Circuits Diagnosis Based on Genetic Algorithm

殷时蓉 1陈光(礻禹) 1谢永乐1

作者信息

  • 1. 电子科技大学,自动化工程学院CAT室,四川,成都,610054
  • 折叠

摘要

关键词

遗传算法/模拟电路/故障诊断

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

殷时蓉,陈光(礻禹),谢永乐..基于遗传算法的模拟电路故障诊断激励优化[J].测控技术,2007,26(6):20-22,3.

基金项目

国家自然科学基金(60372001) (60372001)

测控技术

OACSCDCSTPCD

1000-8829

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