测试技术学报2004，Vol.18Issue(z4)：203-206,4.
双端口RAM在动态应变仪中的应用
Dual Port RAM Using in Dynamic Strain Gauge
尤文斌 1裴东兴 1祖静 1谢浔1
作者信息
- 1. 华北工学院,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051
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摘要
关键词
双端口存储器/动态应变仪/速度匹配/数据采集分类
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尤文斌,裴东兴,祖静,谢浔..双端口RAM在动态应变仪中的应用[J].测试技术学报,2004,18(z4):203-206,4.
