分析测试学报2006，Vol.25Issue(z1)：204-205,2.
用GIXD分析PtRu薄膜的物相深度分布
Study on Phase Depth Distribution of PtRu Thin-film By GIXD
摘要
分类
矿业与冶金引用本文复制引用
杨喜昆,衡根华..用GIXD分析PtRu薄膜的物相深度分布[J].分析测试学报,2006,25(z1):204-205,2.基金项目
云南省教育厅科学研究基金资助项目(540038A) （540038A）
云南省教育厅科学研究基金资助项目(540038A) （540038A）
