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AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管解析模型

杨燕 王平 郝跃 张进城 李培咸

电子学报2005,Vol.33Issue(2):205-208,4.
电子学报2005,Vol.33Issue(2):205-208,4.

AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管解析模型

Analytical Model for AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistor

杨燕 1王平 1郝跃 1张进城 1李培咸1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子所,陕西西安,710071
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摘要

关键词

AlGaN/GaN/高电子迁移率晶体管/解析模型/极化效应/寄生源漏电阻

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨燕,王平,郝跃,张进城,李培咸..AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管解析模型[J].电子学报,2005,33(2):205-208,4.

基金项目

国家重大基础研究(973)项目 (973)

国防预先研究项目支持研究(No.41308060106) (No.41308060106)

电子学报

OA北大核心CSCD

0372-2112

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