计算机工程2002，Vol.28Issue(5)：208-210,3.
VHDL RT级可测性检查和改进
VHDL RTL Testability Check and Modification
陆雪松 1林争辉1
作者信息
- 1. 上海交通大学大规模集成电路研究所,上海,200030
- 折叠
摘要
关键词
可测性设计/可测性综合/寄存器传输级/VHDL分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陆雪松,林争辉..VHDL RT级可测性检查和改进[J].计算机工程,2002,28(5):208-210,3.
