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电路测试的可区分故障算法研究

潘中良 陈翎 张光昭

中山大学学报（自然科学版）1999，Vol.38Issue(3)：21,1.
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中山大学学报（自然科学版）1999，Vol.38Issue(3)：21,1.

电路测试的可区分故障算法研究

潘中良 1陈翎 1张光昭2

作者信息

  • 1. 中山大学无线电电子学系
  • 折叠

摘要

关键词

数字电路/测试生成/人工神经网络/电路测试/故障

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

潘中良,陈翎,张光昭..电路测试的可区分故障算法研究[J].中山大学学报（自然科学版）,1999,38(3):21,1.

中山大学学报（自然科学版）

OA北大核心CSCD

0529-6579

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