计算机工程2008，Vol.34Issue(10)：210-211,240,3.
基于改进Radon变换的芯片几何特征检测
Geometry Feature Detection of Chip Based on Improved Radon Transform
孔华锋 1鲁宏伟 2胡东红1
作者信息
- 1. 华中科技大学计算机科学与技术学院,武汉,430074
- 2. 华中科技大学图像识别与人工智能研究所,武汉,430074
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摘要
关键词
Radon变换/直线检测/图像处理/模式识别分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
孔华锋,鲁宏伟,胡东红..基于改进Radon变换的芯片几何特征检测[J].计算机工程,2008,34(10):210-211,240,3.
