液相外延生长Hg1-xCdx Te薄膜及其特性分析OA北大核心CSCD
GROWTH AND CHARACTERIZATION OF Hg1-xCdx Te LPE FILMS
报道了用液相外延技术生长Hg1-xCdxTe薄膜的工艺及分析薄膜特性的方法.结果表明Hg气压、过冷度、降温速率及退火条件等因素对液相外延薄膜的性能有很大影向.由X射线双晶回摆曲线可定量分析点阵失配度及外延层的组份,由红外透射光谱确定外延层组份的纵向分布.
李标;陈新强;褚君浩;曹菊英;汤定元
中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083
信息技术与安全科学
液相外延,Hg1-xCdxTe,X射线双晶衍射,红外透射光谱
《红外与毫米波学报》 1995 (3)
216-222,7
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