计算机工程与应用2002，Vol.38Issue(16)：218-222,5.
嵌入式微处理器的可测性设计技术研究
The Research of Design for Test Technology of Embedded Microprocessor
高树静 1沈胜宇 2李思昆 2潘振宽1
作者信息
- 1. 青岛大学,青岛,266000
- 2. 国防科技大学计算机学院,长沙,410073
- 折叠
摘要
关键词
嵌入式微处理器 可测性设计 BIST BILBO 部分扫描 边界扫描分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
高树静,沈胜宇,李思昆,潘振宽..嵌入式微处理器的可测性设计技术研究[J].计算机工程与应用,2002,38(16):218-222,5.
