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基于BOE硅腐蚀现象的硅纳米线制作

王慧泉 郑阳明 金仲和 马慧莲 李铁 王跃林

传感技术学报2007,Vol.20Issue(10):2187-2190,4.
传感技术学报2007,Vol.20Issue(10):2187-2190,4.

基于BOE硅腐蚀现象的硅纳米线制作

Silicon Nanowire Fabricated by BOE Silicon Etching

王慧泉 1郑阳明 1金仲和 1马慧莲 1李铁 2王跃林1

作者信息

  • 1. 浙江大学,信息科学与电子工程学系,杭州,310027
  • 2. 上海微系统与信息技术研究所,上海,200050
  • 折叠

摘要

关键词

硅纳米线/选择性腐蚀/BOE溶液/pn结

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王慧泉,郑阳明,金仲和,马慧莲,李铁,王跃林..基于BOE硅腐蚀现象的硅纳米线制作[J].传感技术学报,2007,20(10):2187-2190,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(60476033) (60476033)

国家重点基础研究发展计划(973)资助(2006CB300405) (973)

传感技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-1699

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