电子器件2007，Vol.30Issue(1)：219-221,3.
伪双能X射线透射系统矫正厚度影响的物质鉴别方法
Object Classification Suppressed Thickness Effect Based on Pseudo Dual-Energy X-Ray Transmission Imaging System
徐明刚 1鲍旭东1
作者信息
- 1. 东南大学生物科学与医学工程系影像科学与技术实验室,南京,210096
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摘要
关键词
X射线透视/厚度影响/物质识别/伪双能分类
机械制造引用本文复制引用
徐明刚,鲍旭东..伪双能X射线透射系统矫正厚度影响的物质鉴别方法[J].电子器件,2007,30(1):219-221,3.
