计算机工程与应用2008，Vol.44Issue(16)：221-224,4.
基于综合特征的仪表盘参数符号识别技术研究
Recognizing meter parameters symbols based on combined features
张艳玲 1汪仁煌 2黄宇华1
作者信息
- 1. 广东工业大学,自动化学院,广州,510080
- 2. 广州大学,信息学院,广州,510006
- 折叠
摘要
关键词
像素密度/中心点间距/对称性/不变矩/支持向量机分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
张艳玲,汪仁煌,黄宇华..基于综合特征的仪表盘参数符号识别技术研究[J].计算机工程与应用,2008,44(16):221-224,4.
