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华中科技大学学报(自然科学版)
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N2O氮化LPCVD氧化物可靠性的改进
N2O氮化LPCVD氧化物可靠性的改进
徐静平
钟德刚
于军
华中科技大学学报(自然科学版)
2001,Vol.29
Issue(z1):22-24,3.
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华中科技大学学报(自然科学版)
2001,Vol.29
Issue(z1)
:22-24,3.
N2O氮化LPCVD氧化物可靠性的改进
Improvement of Reliability for N2O-Nitrided LPCVD Oxide
徐静平
1
钟德刚
1
于军
1
作者信息
1.
华中科技大学电子科学与技术系
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摘要
关键词
MOS电容
/
低压化学汽相淀积
/
氧化物
/
N2O氮化
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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徐静平,钟德刚,于军..N2O氮化LPCVD氧化物可靠性的改进[J].华中科技大学学报(自然科学版),2001,29(z1):22-24,3.
华中科技大学学报(自然科学版)
OA
北大核心
CSCD
ISSN:
1671-4512
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