原子能科学技术2008，Vol.42Issue(1)：22-27,6.
IDT6116单粒子敏感性评估试验技术研究
Study on IDT6116 Single-Event Effect Sensitivity Evaluation Testing Technology
薛玉雄 1曹洲 1杨世宇 1田恺 1郭刚 2刘建成2
作者信息
- 1. 兰州物理研究所,真空低温技术与物理国防科技重点实验室,甘肃,兰州,730000
- 2. 中国原子能科学研究院,核物理研究所,北京,102413
- 折叠
摘要
关键词
IDT6116 SRAM/单粒子翻转/单粒子锁定/脉冲激光/重离子/252Cf源分类
能源科技引用本文复制引用
薛玉雄,曹洲,杨世宇,田恺,郭刚,刘建成..IDT6116单粒子敏感性评估试验技术研究[J].原子能科学技术,2008,42(1):22-27,6.
