海军航空工程学院学报2008，Vol.23Issue(2)：224-226,233,4.
BP神经网络在元器件贮存可靠性参数预测中的应用
Application of BP Neural Network on the Prediction of Non-operation Reliability of Electron Devices
陈海建 1胡丽芳 1于乐 1王焱1
作者信息
- 1. 海军航空工程学院,研究生管理大队,山东,烟台,264001
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摘要
关键词
元器件/贮存可靠性/BP神经网络/预测分类
通用工业技术引用本文复制引用
陈海建,胡丽芳,于乐,王焱..BP神经网络在元器件贮存可靠性参数预测中的应用[J].海军航空工程学院学报,2008,23(2):224-226,233,4.
