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半导体激光器加速寿命测试系统研制

亢俊健 张世英 苏美开 王大成

激光技术2004,Vol.28Issue(3):228-230,254,4.
激光技术2004,Vol.28Issue(3):228-230,254,4.

半导体激光器加速寿命测试系统研制

Development for semiconductor laser accelerating lifetime testing system

亢俊健 1张世英 2苏美开 3王大成4

作者信息

  • 1. 石家庄经济学院,光电技术研究所,石家庄,050031
  • 2. 西安武警工程学院,通信系,西安710086
  • 3. 北京理工大学,光电工程系,北京,100081
  • 4. 交通部,水运科学研究所,北京,100088
  • 折叠

摘要

关键词

激光与光电子学/半导体激光器/加速寿命测试/Arrhenius模型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

亢俊健,张世英,苏美开,王大成..半导体激光器加速寿命测试系统研制[J].激光技术,2004,28(3):228-230,254,4.

激光技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-3806

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