电子器件2006，Vol.29Issue(1)：231-234,4.
一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构
Built-in-Self-Test Scheme for DAC in Mixed-Signal Circuit
摘要
关键词
模/数转换器/内建自测试/数模混合电路分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
唐玉兰,陶伟,于宗光..一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构[J].电子器件,2006,29(1):231-234,4.基金项目
电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室基金资助(51433020105DZ6801) （51433020105DZ6801）
