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电容位移测量仪的校准与薄膜的磁致伸缩测量

姜华 周白杨 陈鸿彬 邓光华

理化检验-物理分册2006,Vol.42Issue(5):235-238,4.
理化检验-物理分册2006,Vol.42Issue(5):235-238,4.

电容位移测量仪的校准与薄膜的磁致伸缩测量

THE CALIBRATION OF CAPACITANCE-DISPLACEMENT MICROMETER AND THE MEASUMENT OF THE MAGNETOSTRICTION COEFFICIENT OF THIN FILMS

姜华 1周白杨 1陈鸿彬 1邓光华1

作者信息

  • 1. 福州大学材料科学与工程学院,福州,350002
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摘要

关键词

悬臂梁-电容法/超磁致伸缩薄膜/磁致伸缩系数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

姜华,周白杨,陈鸿彬,邓光华..电容位移测量仪的校准与薄膜的磁致伸缩测量[J].理化检验-物理分册,2006,42(5):235-238,4.

基金项目

福建省科技厅高新技术与火炬计划项目(99-H-44)福州大学科技发展基金(XKJ(QD)-01/3)福州大学开放测试基金(2005035) (99-H-44)

理化检验-物理分册

OACSTPCD

1001-4012

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