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微结构参数对多孔硅层热绝缘性能的影响

胡明 张伟 张绪瑞 杨海波

传感技术学报2006,Vol.19Issue(5):2359-2361,2364,4.
传感技术学报2006,Vol.19Issue(5):2359-2361,2364,4.

微结构参数对多孔硅层热绝缘性能的影响

Thermal Insulation of Porous Silicon under the Influence of the Micro Structural Parameter

胡明 1张伟 1张绪瑞 1杨海波1

作者信息

  • 1. 天津大学电子信息工程学院,天津,300072
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摘要

关键词

多孔硅/厚度/孔隙率/微晶粒尺寸/电化学腐蚀/显微拉曼光谱/热导率/绝热性

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

胡明,张伟,张绪瑞,杨海波..微结构参数对多孔硅层热绝缘性能的影响[J].传感技术学报,2006,19(5):2359-2361,2364,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(60371030) (60371030)

传感技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-1699

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