| 注册
首页|期刊导航|半导体学报|标准CMOS工艺集成肖特基二极管设计与实现

标准CMOS工艺集成肖特基二极管设计与实现

李强 王俊宇 韩益锋 闵昊

半导体学报2005,Vol.26Issue(2):238-242,5.
半导体学报2005,Vol.26Issue(2):238-242,5.

标准CMOS工艺集成肖特基二极管设计与实现

Design and Fabrication of Schottky Diode with Standard CMOS Process

李强 1王俊宇 1韩益锋 1闵昊1

作者信息

  • 1. 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,200433
  • 折叠

摘要

Abstract

Design and fabrication of Schottky barrier diodes (SBD) with a commercial standard 0.35μm CMOS process are described.In order to reduce the series resistor of Schottky contact,interdigitating the fingers of schottky diode layout is adopted.The I-V,C-V,and S parameter are measured.The parameters of realized SBD such as the saturation current,breakdown voltage,and the Schottky barrier height are given.The SPICE simulation model of the realized SBDs is given.

关键词

CMOS/肖特基二极管/集成

Key words

CMOS/Schottky diode/integration

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李强,王俊宇,韩益锋,闵昊..标准CMOS工艺集成肖特基二极管设计与实现[J].半导体学报,2005,26(2):238-242,5.

基金项目

国家高技术研究发展计划资助项目(批准号:2003AA1Z1280) (批准号:2003AA1Z1280)

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文