半导体学报2005，Vol.26Issue(12)：2407-2410,4.
CMOS器件光学特性的测量
Measurements of Optical Characterization for CMOS
宋敏 1郑亚茹 2卢永军 1曲艳玲 1宋利民3
作者信息
- 1. 大连民族学院光电子技术研究所,大连,116600
- 2. 辽宁师范大学物理系,大连,116029
- 3. 大连海事大学信息工程学院,大连,116023
- 折叠
摘要
关键词
CMOS/调制传递函数/量子效率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
宋敏,郑亚茹,卢永军,曲艳玲,宋利民..CMOS器件光学特性的测量[J].半导体学报,2005,26(12):2407-2410,4.
