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用逆压电极化模型对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电流崩塌现象的研究

李若凡 杨瑞霞 武一宾 张志国 许娜颖 马永强

物理学报2008,Vol.57Issue(4):2450-2455,6.
物理学报2008,Vol.57Issue(4):2450-2455,6.

用逆压电极化模型对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电流崩塌现象的研究

Research on the current collapse in AIGaN/GaN high-electron-mobility transistors through the inverse piezoelectric polarization model

李若凡 1杨瑞霞 2武一宾 1张志国 2许娜颖 2马永强1

作者信息

  • 1. 河北工业大学信息工程学院,天津,300130
  • 2. 中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄,050051
  • 折叠

摘要

关键词

AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管/Poisson-Schrodinger方程/逆压电极化模型/电流崩塌

分类

数理科学

引用本文复制引用

李若凡,杨瑞霞,武一宾,张志国,许娜颖,马永强..用逆压电极化模型对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电流崩塌现象的研究[J].物理学报,2008,57(4):2450-2455,6.

基金项目

国家重点基础研究发展规划(批准号:51327030402)和天津市自然科学基金(批准号:07JCZDJC06100)资助的课题. (批准号:51327030402)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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