航天器环境工程2008，Vol.25Issue(3)：263-268,6.
单粒子锁定极端敏感器件的试验及对我国航天安全的警示
The radiation test of SRAM devices for extreme single event latch-up susceptibility and a warning to our aerospace safety
韩建伟 1张振龙 1封国强 1马英起1
作者信息
- 1. 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100190
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摘要
关键词
单粒子锁定/锁定阈值/静态存储器/航天器分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
韩建伟,张振龙,封国强,马英起..单粒子锁定极端敏感器件的试验及对我国航天安全的警示[J].航天器环境工程,2008,25(3):263-268,6.
